LJ-G系列可在X及Z方向上测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。

特性

• 可在8个点上同时进行测量。
• E³-CMOS 影像传感器提供稳定的测量
• Quatro连接系统可实现超出想象超高取样速度，达到3.8ms。
• 3.8ms的高速取样速度，F.S.的0.1％的高精度
• 简单设置菜单 (同类)

  产品

  3200 points 超高精细测量

  2D/3D 线激光测量仪
  LJ-X8000 系列

  • 同行业超高的高精细测量
  • 可支持各种材质
  • 设定只需 3 步